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镀层测厚仪的原理是什么?
答:
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镀层测厚仪是一种基于X射线荧光原理的涂层厚度测量仪器。其基本原理如下:X射线发射:XRF镀层测厚仪内置的X射线源发射X射线,X射线穿过待测涂层并作用于样品下方的探测器。X射线荧光反应:样品表面的涂层对X射线产生荧光反应,释放出特征X射线,特征X射线能量与涂层材料相关。特征X射线检测:探测器接收...
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镀层测厚仪的原理是什么?
答:
XRF
镀层测厚仪的工作原理主要是基于X射线荧光(XRF)和能量色散X射线谱(EDXRF)技术。当X射线照射到样品(通常是金属)时,它会与样品中的原子相互作用,激发出特征X射线。这些特征X射线的能量与样品中元素的原子序数有关。通过测量这些特征X射线的能量,可以确定样品中元素的种类和含量。在XRF镀层测厚仪中...
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分析结果是原子比还是质量比
答:
XRF
是质量百分比,但是XRF是半定量测量,可能不是很准,还有看你测试的元素的基体材料是什么,对精度有要求推荐ICP。XRF优缺点(摘自百度百科)优点 a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且...
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镀层测厚仪的原理是什么?
答:
1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。2、
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镀层测厚仪:俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能:精密...
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测试哪些元素
答:
X射线荧光光谱仪(
XRF
)是一种专门用于测试和分析材料中化学元素的设备。XRF测试可以检测许多不同的元素,从钙到铅再到铂等等。XRF测试可以检测的元素主要包括金属元素和非金属元素。其中金属元素包括铁、铜、铅、锌、锡、铝和镍等等。这些元素都是相对较常见的材料中重要的成分。另一方面,非金属元素也...
EDS和
XRF
的区别?
答:
EDS能量色散谱仪,按能量展谱,主要器件为Li-Si半导体探测器.主要利用X光量子的能量不同来进行元素分析。EDX:Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer 能量色散X射线光谱仪。两者联系:都是一种测试仪器。二、ED-
XRF
是EDX的一种,ED-XRF即能量色散型X射线荧光光谱仪。X射线荧光光谱仪是基于...
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能测试样品中a是的含量吗
答:
XRF
:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发...
XRF
测试仪的定性及定量分析
答:
主要是指测试的精确度,一般来说
XRF
的测试精度比较低,一般测试结果做得比较理想的情况都有10%以上的误差,同时看在应用在哪些方面的测试,测什么基材的什么元素,本底的影响等。一般是定性分析,现在XRF应用在ROHS比较多,它主要来进行定性分析,看看是否达到ROHS标准要求。当然如果要求不高的百分比的含量...
EDS和
XRF
是什么关系?
答:
EDS能量色散谱仪,按能量展谱,主要器件为Li-Si半导体探测器.主要利用X光量子的能量不同来进行元素分析。EDX:Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer 能量色散X射线光谱仪。两者联系:都是一种测试仪器。二、ED-
XRF
是EDX的一种,ED-XRF即能量色散型X射线荧光光谱仪。X射线荧光光谱仪是基于...
XRF
测试仪的定性及定量分析
答:
定性分析就是看看测量的样品有什么元素,一般是全元素的分析;定量分析,分为半定量和定量,半定量一般公司的
XRF
仪器都有而且是XRF方便快捷的特征,但是存在误差较大,一般5—10%,这个是随着含量和原子序数的增加,准确度就越高,Na以前的元素参考性很低,定量分析,一般需要10-20个标样来校准制作标准...
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